|
|
Автор: Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин и др.
Издательство: Мир
Год издания: 1984
Количество страниц: 303
Язык: русский
Формат: DJVU
Размер: 7 Мб
Каталожный номер: 23290
|
В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображений в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.
Книга представляет интерес дл физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов и студентов соответствующих специальностей.
|
|