|
|
Автор: Батаев В.А.
Издательство: Наука
Год издания: 2007
isbn: 978-5-02-034811-0
Количество страниц: 224
Язык: русский
Формат: DJVU
Размер: 4 Мб
Каталожный номер: 93366
|
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.
Ключевые теги: анализ материалов |
|